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NIKON尼康高度計MH-15M

尼康高度計 MH-15M 核心參數與特性總結

一、核心性能指標

1. 測量范圍與精度
   • 量程：0-15mm，覆蓋微小尺寸精密測量需求。
   • 精度：在 20℃ 恒溫環境 下，精度達 ±0.7μm，環境溫差可能導致 ±0.7μm 線性誤差。
   • 分辨率：支持 0.01μm / 0.05μm / 0.1μm / 1μm / 5μm 五檔切換，滿足不同精度場景需求。
2. 測量速度與力控制
   • 響應速度：低于 100mm/s，適應生產線在線質檢節奏。
   • 測量力：
     • 向上測量力：0.245N（輕柔接觸，減少薄件變形）。
     • 向下/橫向測量力：0.637N / 0.441N（穩定接觸，確保重復性）。
   • 升臺放松裝置：降低機械磨損，延長設備壽命。

二、硬件配置與功能擴展

1. 標準配置
   • MH-15M 測厚儀本體：內置微米級位移傳感器，支持三方向測量（向下/橫向/向上）。
   • TC-101 數顯計數器：
     • 10 位 LED 顯示屏，支持 RS-232C 數據接口 與打印輸出。
     • 功能：實時數據記錄、統計運算、合格判定、直方圖生成。
   • MS-5C 測量底座：工業陶瓷材質，提供穩定支撐平臺。
   • MFC/TC 專用電源：輸入電壓 AC100-240V（50/60Hz），適應全球電網。
2. 可選配件與擴展性
   • 測頭類型：針式、塑料、偏心、平頭、滾軸測頭，適配不同測量對象（如軟材料、曲面）。
   • 防塵波紋罩：防止灰塵進入測頭伸縮軸，提高耐用性。
   • 專用打印機：通過 RS-232C 協議連接，實現測量記錄自動化輸出。
   • 數據存儲：2025 年技術更新后支持 單次 100 組測量記錄存儲，便于追溯分析。

三、應用場景與優勢

1. 典型應用領域
   • 精密機械加工：金屬薄板厚度、齒輪齒距測量。
   • 光學元件制造：透鏡中心厚度、曲面曲率檢測。
   • 半導體晶圓檢測：晶圓平整度、封裝高度控制。
   • 電子元件檢測：集成電路引腳高度、PCB 板厚度驗證。
2. 核心優勢
   • 高精度與穩定性：0.7μm 精度與低環境敏感性，確保測量結果可靠。
   • 操作便捷性：空氣驅動技術實現測量自動化，減少人為誤差。
   • 耐用性：內部光學尺信號讀取設計，避免機械磨損導致的精度衰減。
   • 靈活性：多檔分辨率切換與豐富配件，適配多樣化測量需求。

四、維護與校準建議

1. 日常維護
   • 導軌潤滑：每 500 小時 使用專用鋰基潤滑脂保養運動部件。
   • 傳感器清潔：每月用無水乙醇清潔測頭，避免灰塵影響精度。
   • 環境控制：工作溫度 0℃ 至 +40℃，恒溫環境可提升測量穩定性。
2. 校準周期
   • 建議每 12 個月 使用尼康原廠校準量塊執行全面校準，確保長期精度。