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突破樣品篩分邊界—— YK-QLS氣流篩分儀，為您的粉體分析提供新選擇
氣流篩分儀篩空氣噴射篩分儀設(shè)備可滿足對一些粉體進(jìn)行氣流篩分的基本需要。將待測粉樣放入儀器中，同時啟動負(fù)壓發(fā)生裝置及觸摸顯示屏上的定時裝置，可對該粉體進(jìn)行氣流篩分。氣流篩分儀實(shí)現(xiàn)了空氣噴射氣流篩分理論先分級后篩分，還可得出粉體顆粒大小限度百分比。
它可以滿足人們對一些粉體進(jìn)行氣流篩分儀的基本需要。將待測粉樣放入儀器中，同時啟動負(fù)壓發(fā)生裝置及觸摸顯示屏上的定時裝置，對該粉體進(jìn)行氣流篩分。
儀器內(nèi)部采用美國進(jìn)口的電子渦流發(fā)生器，在負(fù)壓發(fā)生裝置的配合下，氣流篩分儀產(chǎn)生精密靈敏的負(fù)壓空氣渦流。該渦流驅(qū)動粉體通過噴嘴上升，碰撞篩蓋，去除團(tuán)聚顆粒。粉體按大小順序被渦流復(fù)吸至標(biāo)準(zhǔn)試驗篩。較小顆粒穿過篩網(wǎng)，儲存在負(fù)壓發(fā)生器或樣品收集器中，較大顆粒留在試驗篩上。整個過程中，電子渦流發(fā)生器控制粉體顆粒按大小次序進(jìn)行三維運(yùn)動，實(shí)現(xiàn)空氣噴射氣流篩分理論：先分級后篩分。更換不同目數(shù)的試驗篩依次篩分，最終得出粉體顆粒大小限度百分比。
在粉體分析與篩分領(lǐng)域，樣品顆粒的準(zhǔn)確分級與篩分流程是確保分析數(shù)據(jù)可靠的重要步驟。為滿足科研機(jī)構(gòu)、檢測實(shí)驗室與生產(chǎn)應(yīng)用中對顆粒篩分的需求，醫(yī)卡（上海）科技有限公司推出了 YK-QLS 氣流篩分儀，適合從15微米到5000微米范圍的顆粒篩分。分析與篩分，涵蓋陶瓷砂、金屬粉、礦物粉、化工粉末等。
在篩分細(xì)小顆粒、剔除團(tuán)聚顆粒獲得顆粒大小限度百分比時，尤為適用。
為科研、質(zhì)量檢測、原材料開發(fā)等環(huán)節(jié)提供工序輔助支持。
主要應(yīng)用范圍
粉體樣品的粒度、獲得顆粒大小限度百分比時，尤為適用。
為科研、質(zhì)量檢測、原材料開發(fā)等環(huán)節(jié)提供工序輔助支持。
產(chǎn)品亮點(diǎn)
觸控式操作界面，一鍵啟動篩分流程，篩分時間可在觸屏上設(shè)定，并能中途停止測試。
實(shí)時氣流壓力顯示與調(diào)節(jié)，配合電子渦流發(fā)生器與負(fù)壓裝置，粉體在三維氣流中運(yùn)動，更有效剝離團(tuán)聚顆粒。
技術(shù)精度高：測量范圍 15–5000 μm；目數(shù)可適配 10–800 目篩網(wǎng)；重復(fù)性誤差小于 1%。
結(jié)構(gòu)精密：采用正反轉(zhuǎn)功能、精密步進(jìn)電機(jī)、數(shù)據(jù)打印支持，便于流程記錄與追溯。
緊湊可靠：外形小巧，適合實(shí)驗室常規(guī)環(huán)境使用。
為什么選擇 YK-QLS？
如果您的樣品篩分中遇到以下難題，YK-QLS 可能是可考慮的選項。
細(xì)粉篩分困難、篩網(wǎng)易被堵塞。
團(tuán)聚顆粒顯著，影響篩分準(zhǔn)確性。
顆粒范圍跨度大或需要獲得顆粒分布數(shù)據(jù)。
追求操作簡便、流程可控、數(shù)據(jù)可記錄。
