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高溫試驗(yàn)?zāi)康?
高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱的目的是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。高溫試驗(yàn)?zāi)芤l(fā)產(chǎn)品哪些故障。
功能失效：系統(tǒng)宕機(jī)、重啟、信號錯(cuò)誤。
性能降級：運(yùn)行速度變慢、輸出功率下降、信號失真。
物理損壞：
塑料外殼軟化、變形、熔化；
液晶顯示屏變黑、出現(xiàn)殘影；
電池鼓包、漏液，甚至有起火風(fēng)險(xiǎn)；
焊點(diǎn)融化或開裂；
元器件脫焊、損壞。
高溫試驗(yàn)箱測試參數(shù)
高溫試驗(yàn)應(yīng)規(guī)定相應(yīng)的試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間，試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從下列數(shù)值中選取：
（1）試驗(yàn)溫度：+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。
（2）持續(xù)時(shí)間：2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。
4、高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱項(xiàng)目
(高溫啟動試驗(yàn)
受試產(chǎn)品在溫度開始穩(wěn)定后對受試產(chǎn)品進(jìn)行通電工作并運(yùn)行正常。
示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下穩(wěn)定2小時(shí)后，上電工作2小時(shí)，試驗(yàn)箱恢復(fù)至常溫+25℃保持1小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫工作試驗(yàn)
受試產(chǎn)品在整個(gè)低溫試驗(yàn)期間連續(xù)通電工作并運(yùn)行正常。
示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，連續(xù)通電工作運(yùn)行4小時(shí),試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫貯存試驗(yàn)
受試產(chǎn)品在試驗(yàn)期間不通電，試驗(yàn)結(jié)束后通電測試功能。
示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，斷電貯存24小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫試驗(yàn)檢測結(jié)果判定
試驗(yàn)期間或試驗(yàn)后，受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變，受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。
高溫試驗(yàn)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》。
若需要高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱可以咨詢唯克檢測設(shè)備，我司提供完整的試驗(yàn)箱資料
