奧林巴斯Olympus GX53倒置金相顯微鏡

快速分析較厚的大尺寸樣品材料

專為鋼鐵、汽車、電子和其他制造行業(yè)設(shè)計的奧林巴斯Olympus GX53顯微鏡能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像。將該顯微鏡與PRECiV圖像分析軟件配合使用時，從觀察到圖像分析和報告的整個檢測流程都將變得更加順暢。

快速檢測，功能先進

快速觀察、測量和分析金相結(jié)構(gòu)。

先進的分析工具

1.采用組合觀察方法獲得出色圖像

2.輕松生成全景圖像

3.生成全聚焦圖像

4.采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

專為材料科學(xué)而優(yōu)化

1.專為材料科學(xué)而設(shè)計的軟件

2.符合行業(yè)標準要求的金相分析

人性化

即使是新手操作員也可以輕松完成樣品觀察、結(jié)果分析和報告創(chuàng)建。

1.輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置

2.用戶指導(dǎo)讓高級分析變得更加簡單

3.高效生成報告

先進的成像技術(shù)

我們成熟可靠的光學(xué)和成像技術(shù)可提供清晰的圖像和可靠的結(jié)果。

1.可靠的光學(xué)性能：波前像差控制

2.清晰的圖像：圖像陰影校正

3.一致的色溫：高強度白光LED照明

4.精確測量：自動校準

模塊化

根據(jù)您的應(yīng)用要求選擇所需的組件。

1.打造專屬于您的系統(tǒng)：利用各種可選組件獲得全面定制的系統(tǒng)。

先進的分析工具

GX53顯微鏡的各種觀察功能可提供清晰、銳利的圖像，讓您能夠?qū)�樣品進行可靠的缺陷檢測。PRECiV圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為樣品評估和結(jié)果記錄提供更多選擇。

高數(shù)值孔徑和長工作距離相結(jié)合

物鏡對顯微鏡的性能至關(guān)重要。新的MXPLFLN物鏡通過同時實現(xiàn)數(shù)值孔徑和工作距離最大化，為MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍時，分辨率越高，通常意味著工作距離越短，這會迫使樣品或物鏡在物鏡交換過程中縮回。在許多情況下，MXPLFLN系列的3 mm工作距離消除了這一問題，使檢查速度更快，物鏡碰到樣品的可能性更小。

從不可見到可見：MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場與另一種觀察方法（例如明場或偏振）相結(jié)合，使您能夠查看傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器具有定向暗場功能，可在某時間照射一個或多個象限，減少樣品的光暈，以便更好地觀察表面紋理。

輕松生成全景圖像：即時MIA

使用多圖像拼接（MIA）功能時，只需轉(zhuǎn)動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接 — 電動載物臺為可選件。PRECiV軟件采用模式識別生成全景圖像，非常適合檢查滲碳和金屬流動情況。

生成全聚焦圖像：EFI

PRECiV軟件的景深擴展（EFI）功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起，生成樣品的單幅全聚焦圖像。即使分析表面不平整的橫截面樣品時，EFI也能創(chuàng)建全聚焦圖像。

EFI配合手動或電動Z軸聚焦裝置，可生成高度圖像，對結(jié)構(gòu)進行可視化觀察。

利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用先進圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍（HDR）可調(diào)整圖像內(nèi)的亮度差異，從而減少眩光。該功能還有助于增強低對比度圖像的對比度。HDR可用于觀察電子器件中的微小結(jié)構(gòu)并識別金屬晶界。